如何查詢SCI期刊的JCR分區(qū)？

1.Web of Science平臺(tái)查詢：使用瀏覽器打開(kāi)Web of Science的官方網(wǎng)站。請(qǐng)注意，該網(wǎng)站可能需要注冊(cè)登錄才能使用。在搜索框中輸入想要查詢的期刊名稱(chēng)，進(jìn)行搜索。在搜索結(jié)果中找到對(duì)應(yīng)的期刊，點(diǎn)擊進(jìn)入期刊詳情頁(yè)面，可以找到期刊的影響因子以及分區(qū)情況。Web of Science通常提供JCR分區(qū)信息，包括Q1、Q2、Q3、Q4四個(gè)分區(qū)。

2.中科院文獻(xiàn)情報(bào)中心查詢：使用瀏覽器打開(kāi)中科院文獻(xiàn)情報(bào)中心的官方網(wǎng)站，或進(jìn)入其期刊分區(qū)查詢頁(yè)面，在搜索結(jié)果中找到對(duì)應(yīng)的期刊，查看其分區(qū)情況。中科院文獻(xiàn)情報(bào)中心的分區(qū)主要是根據(jù)期刊超越指數(shù)來(lái)劃分，與JCR分區(qū)有所不同，但同樣具有參考價(jià)值。

3.聯(lián)系期刊編輯部：如果對(duì)某個(gè)期刊的分區(qū)情況有疑問(wèn)，可以直接聯(lián)系雜志社或咨詢在線客服。

需要注意的是，如果目標(biāo)期刊未被SCI收錄，則無(wú)法查詢到JCR分區(qū)信息；部分新興期刊或非英文期刊可能不在JCR數(shù)據(jù)庫(kù)中。在選擇期刊時(shí)，除了考慮分區(qū)情況外，還需要綜合考慮期刊的影響力、發(fā)表難度、研究領(lǐng)域等因素。

《Ieee Transactions On Semiconductor Manufacturing》雜志簡(jiǎn)介：

《Ieee Transactions On Semiconductor Manufacturing》是一本專(zhuān)注于PHYSICS, APPLIED領(lǐng)域的English學(xué)術(shù)期刊，創(chuàng)刊于1988年，由Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.出版商出版，出版周期Quarterly。該刊發(fā)文范圍涵蓋PHYSICS, APPLIED等領(lǐng)域，旨在及時(shí)、準(zhǔn)確、全面地報(bào)道國(guó)內(nèi)外PHYSICS, APPLIED工作者在該領(lǐng)域的科學(xué)研究等工作中取得的經(jīng)驗(yàn)、科研成果、技術(shù)革新、學(xué)術(shù)動(dòng)態(tài)等。

《Ieee Transactions On Semiconductor Manufacturing》中文名稱(chēng)：《半導(dǎo)體制造的IEEE交易》，ISSN號(hào)為0894-6507，E-ISSN號(hào)為1558-2345。Quarterly出版一期特刊，專(zhuān)注于物理：應(yīng)用領(lǐng)域的關(guān)鍵概念，提供最新的研究概述。

《IEEE 半導(dǎo)體制造學(xué)報(bào)》致力于解決制造復(fù)雜微電子元件（尤其是超大規(guī)模集成電路 (VLSI)）的難題。制造這些產(chǎn)品需要精密微圖案化、精確控制材料特性、超潔凈工作環(huán)境以及化學(xué)、物理、電氣和機(jī)械過(guò)程的復(fù)雜相互作用。

該刊已被SCIE數(shù)據(jù)庫(kù)收錄，顯示了其學(xué)術(shù)影響力和認(rèn)可度。此外，該期刊在中科院最新升級(jí)版分區(qū)表中，被歸類(lèi)為工程技術(shù)大類(lèi)4區(qū)，PHYSICS, APPLIED物理：應(yīng)用小類(lèi)3區(qū)，進(jìn)一步證明了其在學(xué)術(shù)界的地位。

從影響因子來(lái)看，《Ieee Transactions On Semiconductor Manufacturing》雜志的影響因子為：2.3 ，這表明該期刊所發(fā)表的論文在學(xué)術(shù)界具有廣泛的影響力和引用率。該期刊的CiteScore為5.2，SJR為0.967，SNIP為1.237，顯示出其在國(guó)際學(xué)術(shù)界的重要影響力。