如何查詢SCI期刊的JCR分區？

1.Web of Science平臺查詢：使用瀏覽器打開Web of Science的官方網站。請注意，該網站可能需要注冊登錄才能使用。在搜索框中輸入想要查詢的期刊名稱，進行搜索。在搜索結果中找到對應的期刊，點擊進入期刊詳情頁面，可以找到期刊的影響因子以及分區情況。Web of Science通常提供JCR分區信息，包括Q1、Q2、Q3、Q4四個分區。

2.中科院文獻情報中心查詢：使用瀏覽器打開中科院文獻情報中心的官方網站，或進入其期刊分區查詢頁面，在搜索結果中找到對應的期刊，查看其分區情況。中科院文獻情報中心的分區主要是根據期刊超越指數來劃分，與JCR分區有所不同，但同樣具有參考價值。

3.聯系期刊編輯部：如果對某個期刊的分區情況有疑問，可以直接聯系雜志社或咨詢在線客服。

需要注意的是，如果目標期刊未被SCI收錄，則無法查詢到JCR分區信息；部分新興期刊或非英文期刊可能不在JCR數據庫中。在選擇期刊時，除了考慮分區情況外，還需要綜合考慮期刊的影響力、發表難度、研究領域等因素。

《Iet Computers And Digital Techniques》雜志簡介：

《Iet Computers And Digital Techniques》是一本專注于COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE領域的English學術期刊，創刊于2007年，由Wiley出版商出版，出版周期Bi-monthly。該刊發文范圍涵蓋COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE等領域，旨在及時、準確、全面地報道國內外COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE工作者在該領域的科學研究等工作中取得的經驗、科研成果、技術革新、學術動態等。

《Iet Computers And Digital Techniques》中文名稱：《計算機與數字技術》，ISSN號為1751-8601，E-ISSN號為1751-861X。Bi-monthly出版一期特刊，專注于計算機：硬件領域的關鍵概念，提供最新的研究概述。

IET 計算機與數字技術發表技術論文，介紹數字片上系統設計和電子及嵌入式系統測試各個方面的最新研究和開發工作，包括設計自動化工具（方法、算法和架構）的開發。特別歡迎基于與 CMOS 技術縮小相關的問題的論文。它面向計算機和數字系統設計和測試領域的研究人員、工程師和教育工作者。

感興趣的關鍵主題領域是：

設計方法和工具：CAD/EDA 工具、硬件描述語言、高級和架構綜合、硬件/軟件協同設計、基于平臺的設計、3D 堆疊和電路設計、片上系統架構和 IP 核、嵌入式系統、邏輯綜合、低功耗設計和功率優化。

仿真、測試和驗證：電氣和時序仿真、基于仿真的驗證、硬件/軟件協同仿真和驗證、混合域技術建模和仿真、硅后驗證、功率分析和估算、互連建模和信號完整性分析、硬件信任和安全性、可測試性設計、嵌入式核心測試、片上系統測試、在線測試、自動測試生成和延遲測試、低功耗測試、可靠性、故障建模和容錯。

處理器和系統架構：多核系統、通用和專用處理器、DSP 應用的計算算法、算術和邏輯單元、高速緩存、內存管理、協處理器和加速器、片上系統和網絡、嵌入式內核、平臺、多處理器、分布式系統、通信協議和低功耗問題。

可配置計算：嵌入式內核、FPGA、快速原型設計、自適應計算、可演化和靜態和動態可重構及可重新編程系統、可重構硬件。

針對可變性、功耗和老化的設計：針對可變性、功耗和老化感知設計、內存、FPGA、IP 組件、3D 堆疊、能量收集的設計方法。

案例研究：新興應用、工業設計中的應用以及設計框架。

該刊已被SCIE數據庫收錄，顯示了其學術影響力和認可度。此外，該期刊在中科院最新升級版分區表中，被歸類為計算機科學大類4區，COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE計算機：硬件小類4區，進一步證明了其在學術界的地位。

從影響因子來看，《Iet Computers And Digital Techniques》雜志的影響因子為：1.1 ，這表明該期刊所發表的論文在學術界具有廣泛的影響力和引用率。該期刊的CiteScore為3.5，SJR為0.393，SNIP為0.752，顯示出其在國際學術界的重要影響力。