中科院分區(qū)在SCI期刊中具有重要地位，主要體現(xiàn)在以下幾個方面：

投稿參考：中科院分區(qū)為科研人員選擇投稿期刊提供了重要依據(jù)。高分區(qū)期刊通常具有較高的學術(shù)聲譽和影響力，科研人員可以根據(jù)自己的研究領(lǐng)域和成果水平，選擇合適分區(qū)的期刊投稿，提高論文被接受和發(fā)表的機會。

學術(shù)評價：國內(nèi)許多高校和科研機構(gòu)在對科研人員進行績效考核、職稱評定、科研獎勵等方面，常常將中科院分區(qū)作為重要的評價指標之一。

學術(shù)影響力提升：進入中科院分區(qū)表是對期刊學術(shù)質(zhì)量和影響力的一種認可，尤其是對于一些新興期刊或發(fā)展中的期刊來說，獲得較好的分區(qū)能夠吸引更多優(yōu)秀的稿件和讀者，進一步提升期刊的學術(shù)影響力。

雜志簡介

《Journal Of Electronic Testing-theory And Applications》是一本在工程技術(shù)領(lǐng)域具有重要影響力的學術(shù)期刊，由出版社Springer US出版，出版地區(qū)為：UNITED STATES。

一、基本信息

創(chuàng)刊時間：1990年
出版周期：Bimonthly
ISSN：0923-8174，E-ISSN：1573-0727

定位：

《電子測試：理論與應(yīng)用雜志》是傳播電子測試領(lǐng)域研究和應(yīng)用信息的國際論壇。這是唯一一本專門針對電子測試的雜志。《電子測試：理論與應(yīng)用雜志》上發(fā)表的論文經(jīng)過同行評審，以確保原創(chuàng)性、及時性和相關(guān)性。該雜志提供檔案材料，并通過其快速的出版周期，努力將最新成果帶給研究人員和從業(yè)人員。雖然它強調(diào)發(fā)表珍貴的未發(fā)表材料，但需要更廣泛曝光的優(yōu)秀會議論文，只要符合該雜志的同行評審標準，編輯也會酌情發(fā)表。 《電子測試：理論與應(yīng)用雜志》還尋求清晰的調(diào)查和評論文章，以促進對最新技術(shù)的更好理解。

《電子測試：理論與應(yīng)用雜志》的報道包括但不限于以下主題：

VLSI 設(shè)備印刷電路板和電子系統(tǒng)的測試；

模擬和數(shù)字電子電路的測試；

微處理器、存儲器和信號處理設(shè)備的測試；

故障建模；

測試生成；

故障模擬；

可測試性分析；

可測試性設(shè)計；

可測試性綜合；

內(nèi)置自測試；

測試規(guī)范；

容錯；

形式驗證硬件；

驗證模擬；

設(shè)計調(diào)試；

測試和診斷的人工智能方法和專家系統(tǒng)；

自動測試設(shè)備（ATE）；

測試夾具；

電子束測試系統(tǒng)；

測試編程；

測試數(shù)據(jù)分析；

測試經(jīng)濟性；

質(zhì)量和可靠性；

CAD 工具；

晶圓級集成器件測試；

可靠系統(tǒng)測試；

制造良率和良率改進設(shè)計；

故障模式分析和工藝改進

二、內(nèi)容特色

內(nèi)容特色：文章風格兼顧專業(yè)性與可讀性，適合不同背景的讀者。

三、學科領(lǐng)域與覆蓋范圍

主要學科：工程技術(shù)-工程：電子與電氣。
覆蓋范圍：該刊發(fā)文范圍涵蓋ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC等領(lǐng)域。

四、學術(shù)影響力與評價

影響因子與分區(qū)：《Journal Of Electronic Testing-theory And Applications》雜志的影響因子為1.1 ，JCR分區(qū)：Q4區(qū)，中科院分區(qū)：大類學科：工程技術(shù)，分區(qū)：4區(qū)，小類學科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC工程：電子與電氣，分區(qū)：4區(qū)。

發(fā)文量與Gold OA占比：年發(fā)文量：43，Gold OA文章占比：9.56%。