來源：學(xué)術(shù)之家整理 2025-03-18 15:39:51
《Traitement Du Signal》中文名稱：《信號(hào)處理》，創(chuàng)刊于1984年，由Lavoisier出版商出版，出版周期Quarterly。
TS 可快速傳播信號(hào)處理、成像和視覺領(lǐng)域的原創(chuàng)研究成果。自 1984 年成立以來，該期刊發(fā)表的文章展示了基礎(chǔ)、方法或應(yīng)用方面的原創(chuàng)研究成果。編輯委員會(huì)歡迎有關(guān)最新和最有前景的學(xué)術(shù)研究成果的文章，包括理論結(jié)果和案例研究。
TS 歡迎各個(gè)學(xué)科的原創(chuàng)研究論文、技術(shù)說明和評(píng)論文章，包括但不限于：
信號(hào)處理
成像
視覺
控制
過濾
壓縮
數(shù)據(jù)傳輸
降噪
反卷積
預(yù)測
識(shí)別
分類。
旨在及時(shí)、準(zhǔn)確、全面地報(bào)道國內(nèi)外COMPUTER SCIENCE, ARTIFICIAL INTELLIGENCE工作者在該領(lǐng)域的科學(xué)研究等工作中取得的經(jīng)驗(yàn)、科研成果、技術(shù)革新、學(xué)術(shù)動(dòng)態(tài)等。
| 機(jī)構(gòu)名稱 | 發(fā)文量 |
| NATIONAL INSTITUTE OF T... | 19 |
| FIRAT UNIVERSITY | 9 |
| UNIVERSITE DE M'SILA | 9 |
| ISLAMIC AZAD UNIVERSITY | 8 |
| KONYA TECHNICAL UNIVERS... | 6 |
| VIGNAN'S FOUNDATION FOR... | 5 |
| K. N. TOOSI UNIVERSITY ... | 4 |
| SELCUK UNIVERSITY | 4 |
| SHANDONG AGRICULTURE & ... | 4 |
| UNIVERSITE DE SKIKDA | 4 |
| 國家/地區(qū) | 發(fā)文量 |
| CHINA MAINLAND | 91 |
| India | 47 |
| Turkey | 25 |
| Algeria | 24 |
| Iran | 14 |
| France | 8 |
| Tunisia | 5 |
| USA | 4 |
| Pakistan | 3 |
| BOSNIA & HERZEGOVINA | 2 |
| 文章引用名稱 | 引用次數(shù) |
| Deep learning based conventi... | 12 |
| A Micro-expression Recogniti... | 11 |
| A Fast Recognition Algorithm... | 11 |
| GKP Signal Processing Using ... | 11 |
| Image Based Tumor Cells Iden... | 9 |
| GA-Based Optimization of SUR... | 8 |
| A novel vehicle feature extr... | 6 |
| Novel Method for Brain Tumor... | 6 |
| An investigation of wireless... | 5 |
| Spatial-Spectral Random Patc... | 5 |
| 被引用期刊名稱 | 數(shù)量 |
| TRAIT SIGNAL | 17 |
| IEEE ACCESS | 10 |
| APPL ECOL ENV RES | 6 |
| INT J SIMUL MODEL | 5 |
| INT J COMPUT COMMUN | 3 |
| REMOTE SENS-BASEL | 3 |
| SIGNAL PROCESS | 3 |
| DIGIT SIGNAL PROCESS | 2 |
| IEEE GEOSCI REMOTE S | 2 |
| J COASTAL RES | 2 |
| 引用期刊名稱 | 數(shù)量 |
| PATTERN RECOGN | 29 |
| IEEE T IMAGE PROCESS | 21 |
| IEEE T PATTERN ANAL | 19 |
| MULTIMED TOOLS APPL | 18 |
| NEUROCOMPUTING | 17 |
| TRAIT SIGNAL | 17 |
| IEEE ACCESS | 16 |
| MED PHYS | 15 |
| PATTERN RECOGN LETT | 15 |
| EXPERT SYST APPL | 14 |
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