來源：學術之家整理 2025-03-18 15:40:21
《Ieee Design & Test》中文名稱：《IEEE設計與測試》，創刊于2013年，由IEEE Computer Society出版商出版，出版周期6 issues/year。
《IEEE 設計與測試》提供原創作品，介紹用于設計和測試微電子系統（從設備和電路到完整的片上系統和嵌入式軟件）的模型、方法和工具。該雜志側重于當前和近期的實踐，包括教程、操作方法文章和真實案例研究。該雜志力求通過專欄、訪談和圓桌討論，向讀者介紹重要的技術進步以及技術領導者的觀點。主題包括半導體 IC 設計、半導體知識產權模塊、設計、驗證和測試技術、制造和產量設計、嵌入式軟件和系統、低功耗和節能設計、電子設計自動化工具、實用技術和標準。
旨在及時、準確、全面地報道國內外COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE工作者在該領域的科學研究等工作中取得的經驗、科研成果、技術革新、學術動態等。
| 文章引用名稱 | 引用次數 |
| Edge Intelligence-On the Cha... | 8 |
| ZeNA: Zero-Aware Neural Netw... | 7 |
| Context-Aware Intelligence i... | 7 |
| Hierarchical Electric Vehicl... | 7 |
| A Survey on Security Threats... | 6 |
| Survey of Automotive Control... | 5 |
| Voltage-Driven Building Bloc... | 5 |
| Quantum Computing Circuits a... | 5 |
| Design-for-Testability of On... | 5 |
| CPU-FPGA Coscheduling for Bi... | 4 |
| 被引用期刊名稱 | 數量 |
| IEEE ACCESS | 57 |
| IEEE T COMPUT AID D | 52 |
| IEEE T VLSI SYST | 38 |
| INTEGRATION | 35 |
| J ELECTRON TEST | 29 |
| ACM T DES AUTOMAT EL | 25 |
| IEEE T COMPUT | 21 |
| IEEE DES TEST | 16 |
| IEEE T CIRCUITS-I | 15 |
| MICROPROCESS MICROSY | 15 |
| 引用期刊名稱 | 數量 |
| IEEE T COMPUT AID D | 27 |
| IEEE J SOLID-ST CIRC | 21 |
| NATURE | 20 |
| IEEE T VLSI SYST | 19 |
| IEEE T CIRCUITS-I | 17 |
| PHYS REV LETT | 17 |
| IEEE DES TEST | 16 |
| NAT COMMUN | 16 |
| P IEEE | 14 |
| IEEE COMMUN SURV TUT | 11 |
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